Ctrl + K
Популярное оборудование
ОборудованиеJSM-IT710HR полевой эмиссионный SEM Schottky
Высокоразрешающий SEM для нанометровой визуализации и анализа.
ОборудованиеJEM-F200 многоцелевой электронный микроскоп
Field-emission TEM for high-throughput materials characterization.
ОборудованиеJXA-iHP200F полевой эмиссионный электронно-зондовый микроанализатор
EPMA for quantitative elemental analysis and materials research.
ОборудованиеJIB-PS500i FIB-SEM
Focused ion beam and SEM platform for advanced sample preparation and analysis.
ОборудованиеIB-19530CP полировщик поперечных сечений
Ion-beam cross-section preparation for SEM workflows.
Начните вводить запрос для поиска
