01 / 01

JSM-IT710HR полевой эмиссионный SEM Schottky

JEOLМикроскопия

Премиальное научное оборудование

Official source

JSM-IT710HR полевой эмиссионный SEM Schottky

Высокоразрешающий SEM для нанометровой визуализации и анализа.

Официальная модель JEOL Scientific SEM для высокоразрешающего наблюдения, низковакуумной визуализации, Live 3D и интеграции EDS.

Производитель: JEOL
Серия: JSM-IT HR Series
Модель: JSM-IT710HR
Проверенный источник: JEOL official Scientific product page

Уточним конфигурацию, условия поставки и требования к установке для вашей лаборатории.

Доступность в регионе

Uzbekistan
По запросу

Kazakhstan
По запросу

О продукте

Всё важное — в одном месте

Ключевые преимущества

Automated SEM/EDS observation
Live 3D from multi-segment BSE detector
Low-vacuum secondary electron detector option
Designed for high-resolution imaging with easier operation.
Supports elemental analysis workflows through JEOL EDS integration.

Характеристики

PerformanceResolution: High vacuum 1.0 nm at 20 kV; 3.0 nm at 1 kV
PerformanceAccelerating voltage: 0.5 to 30 kV
PerformanceDirect magnification: x5 to x600,000
AnalysisAnalysis performance: 3.0 nm at 15 kV, probe current 3 nA

Применение

— Semiconductor analysis
— Material characterization
— Failure analysis

Документы

JEOL JSM-IT710HR product guide

PDF / Official PDF

Открыть

Связанное оборудование

JEOL

Микроскопия

JSM-IT810 InTouchScope SEM

JSM-IT Series · JSM-IT810

InTouchScope SEM for routine imaging and microanalysis workflows.

Открыть оборудование

JEOL

Микроскопия

JXA-iHP200F полевой эмиссионный электронно-зондовый микроанализатор

JXA-iHP Series · JXA-iHP200F

EPMA for quantitative elemental analysis and materials research.

Открыть оборудование

JEOL

Микроскопия

JIB-PS500i FIB-SEM

JIB Series · JIB-PS500i

Focused ion beam and SEM platform for advanced sample preparation and analysis.

Открыть оборудование

01 / 01

JEOLМикроскопия

Премиальное научное оборудование

Official source

JSM-IT710HR полевой эмиссионный SEM Schottky

Высокоразрешающий SEM для нанометровой визуализации и анализа.

Производитель: JEOL
Серия: JSM-IT HR Series
Модель: JSM-IT710HR
Проверенный источник: JEOL official Scientific product page

Уточним конфигурацию, условия поставки и требования к установке для вашей лаборатории.

Доступность в регионе

Uzbekistan
По запросу

Kazakhstan
По запросу

О продукте