Asosiy kontentga o'tish

Ctrl + K

Tavsiya etilgan uskunalar

UskunaJSM-IT710HR Schottky майдон эмиссияли SEM

Нанометр даражадаги тасвир ва таҳлил учун юқори аниқликдаги SEM.

UskunaJEM-F200 кўп мақсадли электрон микроскоп

Field-emission TEM for high-throughput materials characterization.

UskunaJXA-iHP200F майдон эмиссияли электрон-зонд микроанализатор

EPMA for quantitative elemental analysis and materials research.

UskunaJIB-PS500i FIB-SEM

Focused ion beam and SEM platform for advanced sample preparation and analysis.

UskunaIB-19530CP кесим полировкалаш тизими

Ion-beam cross-section preparation for SEM workflows.

Toifalar

Uskuna kategoriyalari

Kategoriyani tanlang va katalogdagi mos uskunalarni oching.

ЮзаТаркиб, кимё ва юза ҳолатини тушунинг.СпектроскопияТадқиқот ва сифат назорати учун молекуляр ва оптик маълумот.МикроскопияЮқори аниқликдаги тасвир ва элемент контексти ягона жараёнда.ЗаррачаларСуюлтирилган суспензиядан концентрланган намунагача заррача тизимларини назорат қилинг.ТермикИссиқлик оқими, диффузивлик ва термоэлектрик хулқни ўлчанг.ЭлектрокимёНазорат қилинадиган шароитларда электрокимёвий ва батарея синовларини бажаринг.

Interactive Corporation

Uskunalar katalogini ochish

Ishlab chiqaruvchilar

Ishlab chiqaruvchilar

Ishlab chiqaruvchini tanlab, uning uskunalarini katalogda ko‘ring.

ADVANCE RIKOИшлаб чиқарувчининг расмий манбаларидан илмий, лаборатория ва саноат ускуналари.

AS ONE CorporationИшлаб чиқарувчининг расмий манбаларидан илмий, лаборатория ва саноат ускуналари.

HORIBAИшлаб чиқарувчининг расмий манбаларидан илмий, лаборатория ва саноат ускуналари.

JASCOИшлаб чиқарувчининг расмий манбаларидан илмий, лаборатория ва саноат ускуналари.

JEOLИшлаб чиқарувчининг расмий манбаларидан илмий, лаборатория ва саноат ускуналари.

Meiden HokutoИшлаб чиқарувчининг расмий манбаларидан илмий, лаборатория ва саноат ускуналари.

Interactive Corporation

Uskunalar katalogini ochish

Usullar

Usullar

Tahlil usulini tanlab, mos uskunalarni ko‘ring.

SEMScanning Electron Microscopy method used by catalog equipment.FTIRFourier Transform Infrared Spectroscopy method used by catalog equipment.RamanRaman Spectroscopy method used by catalog equipment.Particle SizeParticle size analysis method used by catalog equipment.Thermal AnalysisThermal analysis method used by catalog equipment.Electrochemical AnalysisElectrochemical analysis method used by catalog equipment.

Interactive Corporation

Uskunalar katalogini ochish

Sohalar

Sohalar

Sohani tanlab, uning jarayonlari uchun uskunalarni ko‘ring.

SemiconductorSemiconductor process, wafer, cleanroom and failure-analysis laboratories.Materials ScienceMaterials characterization, structure-property research and QC.BatteryBattery, fuel-cell and electrochemical energy research.Academic ResearchShared university and research-center laboratories.

Interactive Corporation

Uskunalar katalogini ochish

Loyihalar Yangiliklar Haqida

Юза Спектроскопия Микроскопия Заррачалар Термик Электрокимё To‘liq bo‘limni ochish

ADVANCE RIKO AS ONE Corporation HORIBA JASCO JEOL Meiden Hokuto To‘liq bo‘limni ochish

SEM FTIR Raman Particle Size Thermal Analysis Electrochemical Analysis To‘liq bo‘limni ochish

Semiconductor Materials Science Battery Academic Research To‘liq bo‘limni ochish

Loyihalar Yangiliklar Haqida

Русский O'zbek Қазақша English

Qidirish uchun yozishni boshlang

Loading page

IAC Japan muvofiqlashtiruvidagi O‘zbekiston va Qozog‘iston uchun ilmiy uskunalar.

Batafsil mahsulot hujjatlari so‘rov bo‘yicha beriladi.

Uskunalar

Barcha mahsulotlar Юза Спектроскопия Микроскопия Хроматография / MS Заррачалар

Bo‘limlar

Tahlil usullari Sohalar Ishlab chiqaruvchilar O‘rnatishlar

Kompaniya

Yangiliklar Bilim markazi Yuklamalar IAC haqida

Aloqa

info@inter-active.co.jp

IAC Japan bosh ofisi

© 2026 Interactive Corporation. Barcha huquqlar himoyalangan.

01 / 01

Gather-X JED Series EDS тизими

JEOLМикроскопия

Premium ilmiy uskuna

Gather-X JED Series EDS тизими

EDS microanalysis for SEM observation environments.

Official JEOL Gather-X product mapped to EDS, microanalysis and elemental-analysis workflows.

Ishlab chiqaruvchi: JEOL
Seriya: Gather-X / JED
Model: Gather-X JED
Tasdiqlangan manba: JEOL official Scientific product page

Laboratoriyangiz uchun konfiguratsiya, yetkazib berish va o‘rnatish talablarini aniqlashtiramiz.

Hududiy mavjudlik

Uzbekistan
So‘rov bo‘yicha

Kazakhstan
So‘rov bo‘yicha

Mahsulot haqida

Barcha muhim ma’lumot bir joyda

Asosiy afzalliklar

Energy-dispersive X-ray spectroscopy
SEM elemental analysis
Microanalysis support
Adds elemental context to SEM imaging workflows.

Xususiyatlar

MethodAnalysis method: EDS

Qo‘llanish

— Elemental analysis
— Failure analysis
— Quality control

Bog‘liq uskunalar

Микроскопия

JSM-IT710HR Schottky майдон эмиссияли SEM

JSM-IT HR Series · JSM-IT710HR

Нанометр даражадаги тасвир ва таҳлил учун юқори аниқликдаги SEM.

Uskunani ochish

Микроскопия

JSM-IT810 InTouchScope SEM

JSM-IT Series · JSM-IT810

InTouchScope SEM for routine imaging and microanalysis workflows.

Uskunani ochish